| Thèse soutenue
le 24 mai 2013
Guillaume Just
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| Directeur
Thèse EpOC |
Pascal Masson
- Jérémy Postel-Pellerin &
Frédéric Lalande (IM2NP)
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| Titre |
Caractérisation et
modélisation des mémoires Flash embarquées
destinées à des applications faible consommation et
à forte contrainte de fiabilité |
Résumé
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De
nombreuses applications industrielles
spécifiques dans les secteurs tels que l’automobile, le
médical et le spatial,
requièrent un très haut niveau de fiabilité. Ce
type d’applications
fonctionnant sous des contraintes sévères (haute
température, corrosion,
vibration, radiations,…) impose aux industriels des
spécifications
particulières en termes de fiabilité et de consommation
d’énergie. Dans ce contexte, les travaux menés ont pour
objectif d’étudier la fiabilité des mémoires Flash
embarquées pour des
applications faible consommation et à forte contrainte de
fiabilité. Après une introduction orientée sur les
deux volets d’étude que sont
la caractérisation électrique et le test de
mémoires non volatiles, un modèle
physique capable de modéliser le courant de SILC a
été développé. Cet outil
permet de répondre à la problématique de
perturbations en lecture (read
disturb) et donne aux designers et technologues un moyen d’estimer le
taux de
défaillance de cellules mémoires en fonction de
paramètres
physiques, géométriques et électriques ainsi que
des moyens
d’action afin de minimiser ce phénomène
indésirable. La fiabilité (oxyde
tunnel, endurance) et les performances (consommation
énergétique) de la cellule
Flash sont ensuite étudiées en explorant les variations
de paramètres du
procédé de fabrication et des conditions
électriques de fonctionnement. Enfin,
une étude originale menée en temps réel sur plus
de 15 mois est consacrée à la
fiabilité en rétention des mémoires Flash soumises
aux effets des particules
radiatives présentes dans l’environnement naturel terrestre.
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