Résumé
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La fiabilité
des microcontrôleurs est cruciale compte tenu de leur utilisation
massive dans de nombreux domaines, surtout dans des environnements
sévères. De ce fait, la robustesse aux perturbations
électromagnétiques, en particulier à propos des
alimentations, est un axe de développement majeur, que ce soit
pour acquérir un avantage comparatif sur le marché, ou
simplement pour assurer la sécurité des biens et des
personnes. En ce sens, nous avons défini le test de ces circuits
soumis à des agressions transitoires rapides en salve
définies par la norme IEC 61000-464. Les
mécanismes spécifiques de propagation de la perturbation
en mode commun sont mis en évidence, ainsi que leur conversion
en mode différentiel. Plusieurs méthodes de mesure, dont
certaines originales et novatrices, ont été
développées pour valider cette conversion, ainsi que les
modes de propagation. Sur cette base, le réseau de distribution
des alimentations a été particulièrement
étudié et son influence sur la robustesse du circuit a
été mise en évidence. Enfin, cette thèse
ouvre de nouvelles perspectives d'amélioration de la robustesse
des microcontrôleurs et des circuits intégrés en
général, pour ce type d'agression, et donc de leur
fiabilité.
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