Henri Braquet

930 Chemin des Colles
Parc de Sophia Antipolis
F-06410 Biot
France

Mail : Braquet@wanadoo.fr
Autre : LinkedIn


Résumé :

Henri Braquet a passé plus de 30 ans de sa carrière chez IBM dont une grande partie à la Gaude. Il a travaillé sur la CEM (Compatibilite Electromagnétique) et est un expert internationalement reconnu. Il a été PAST pendant 9 ans à l'ESINSA, puis à PolytechNice-Sophia Dpt Electronique), il a co-encadré un doctorant en thèse Cifre avec ST Rousset, qui a travaillé sur la CEM des circuits intégrés et a soutenu en 2012. Henri est maintenant retraité, mais il continue à co-encadrer deux doctorants en Cifre, l'un avec ST Rousset toujours sur les circuits intégrés), mais surtout depuis Janvier 2014, une Cifre avec Schneider Carros sur des cartes imprimées et des systèmes complets; sa spécialité.

Henri Braquet graduated from EREM (Ecole de Radio et d'Electronique de Marseille) in 1972. From 1973 to 1999 he worked with IBM at Centre d'Etudes et de Recherches in La Gaude in France. He began his carreer in analog circuit design, then from 1990 to 1999 he worked in the EMC laboratory of IBM. From june 83 to june 84 he had the opportunity to get a MS degree in EE from University of Vermont. In mid 2000 he joined the Ecole Polytechnique of Nice Sophia Antipolis as mid time professor. He is author or co-author of more than 30 journal and conference papers and holds 2 patents.


Domaine d'activité :

EMC, EMI, CEM Composant



Publications :

Revues internationales :

Y. Bacher, H. Braquet, N. Froidevaux & G. Jacquemod, “Analysis and Measurement of the Propagation of FTB Stress in an Integrated Circuit”, IEEE Trans. on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Vol. 9, n° 4, pp. 754-762, 2019.

J.P.Leca, N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & G. Jacquemod, "EMI Measurements, Modeling and Reduction of 32-bit High-Performances Microcontroller", IEEE Trans. on Electromagnetic Compatibility, vol. 56, issue 5, pp. 1035-1044, 2014.

Conférences internationales :

L. Quazzo, Y. Bacher, N. Froidevaux, H. Braquet & G. Jacquemod, “Analysis of FTB stress propagation in an integrated circuit", PRIME, Lausanne, Switzerland, pp. 185-188, 2019.

Y. Bacher, L. Quazzo, N. Froidevaux, H. Braquet & G. Jacquemod, “Near field measurment bench and on-chip sensor for FTB stress propagation analysis, ICECS, Bordeaux, France, 2018.


L. Quazzo, Y. Bacher, H. Braquet, N. Froidevaux & G. Jacquemod, “Resonance analysis methods for estimation of FTB propagation in integrated circuits, IEEE Radio, Flic-En-Flac, Mauritius Island, 2018.


Y. Bacher, L. Quazzo, H. Braquet, N. Froidevaux & G. Jacquemod, “Novel measurement set-ups of FTB stress propagation in an IC, PIERS, Toyama, Japan, 2018.

M. Zouaoui, E. Sicard, H. Braquet, G. Rudelou, E. Marsy & G. Jacquemod, “Impact of NFSI on the clock of a Gigabit Ethernet Switch, EMC Compo, Saint Petersburg, Russia, pp. 131-135, 2017.

M. Zouaoui, E. Sicard, G. Jacquemod, G. Rudelou, E. Marsy & H. Braquet, “Radiated immunity of a Gigabit Ethernet Switch embedded in an industrial Programmable Logic Controller”, EMC, Ottawa, Canada, pp. 559-564, 2016.

Y. Bacher, N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & G. Jacquemod, Resonance Analysis for EMC improvement in integrated circuits”, EMC Compo, Edinburgh, UK, pp. 56-60, 2015.

Y. Bacher, A. Gamet, N. Froideveaux, P. Le Fevre, H. Braquet, G. Jacquemod, S. Meillere & M. Bendahan, “A New RLC structure measurement method using a Transverse ElectroMagnetic cell, ICSyS, Langkawi, Malaysia, pp. 7-10, 2015.

Y. Bacher, C. Gori, N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & G. Jacquemod, “Influence of supplies on fast transient burst test in microcontrollers”, LASCAS, Montevideo, Uruguay, 2015.

Y. Bacher, N. Froideveaux, C. Gori, H. Braquet & G. Jacquemod, “Supply network setup impact on fast transient burst test in microcontrollers”, SAME, University Booth, Sophia Antipolis, 2014.

J.P. Leca, N. Froideveaux, H. Braquet & G. Jacquemod, “EMI Modeling of a 32-bit Microcontroller”, IEEE EMC Compo, Dubrovnik,Croatia, pp. 230-234, 2011.

J.P. Leca, N. Froideveaux, H. Braquet & G. Jacquemod, “Microcontroller EMI Modeling based on TEM cell Measurements”, SAME, Sophia-Antipolis, France, October 2010.

J.P. Leca, N. Froideveaux, H. Braquet & G. Jacquemod, “EMI Modeling of a 32-bit Microcontroller in Wait Mode”, BMAS, San Jose, USA, pp. 13-18, 2010.

Conférences nationales :


L. Quazzo, N. FroidevauxG. Jacquemod & H. Braquet, Amélioration de la robustesse des mircocontrôleurs STM32 soumis à un stress FTB en impulsion par contrôle de leur réponse”, JNRDM, Montpellier, 2019.


L. Quazzo, Y. Bacher, N. Froidevaux, H. Braquet & G. Jacquemod, Nouvelles méthodes d'analyse et de mesure de la propagation du stress FTB dans un circuit intégré”, JNM, Caen, 2019.


H. Braquet, “L'environnement des cables, RF & Microwave, Session "CEM des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.

M. Moign, J.P. Leca, N. Froidevaux, G. Jacquemod, H. Braquet & Y. Leduc, “Microcontrollers Electromagnetic Interferences (EMI) modeling and reduction, RF & Microwave, Session "CEM des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.


L. Quazzo, Y. Bacher, H. Braquet, N. Froidevaux & G. Jacquemod, “STM32 microcontroller FTB susceptibility and modeling, RF & Microwave, Session "CEM des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.

M. Zouaoui, E. Sicard, H. Braquet, G. Rudelou, E. Marsy &  G. Jacquemod, "Etude d'une injection NFSI sur le circuit d'horloge d'un Switch Ethernet Gigabit", JNM, Saint-Malo, France, 2017.


M. Zouaoui, G. Jacquemod, E. Marsy, G. Rudelou, J. Adragna, H. Braquet & E. Sicard, "NFS en immunité d'un Switch Ethernet Gigabit", JNRDM, Bordeaux, France, 2015.


Y. Bacher, N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & C. Jacquemod, "Influence du nombre d'alimentations sur la suceptibilité des microncontrôleurs aux essais d'immunité aux trnsitoires électriques rapides en salves", JNRDM, Lille, France, 2014.