Résumé
:
Henri Braquet a
passé plus de 30 ans de sa carrière chez IBM dont une
grande partie à la Gaude. Il a travaillé sur la CEM
(Compatibilite Electromagnétique) et est un expert
internationalement reconnu. Il a été PAST pendant 9 ans
à l'ESINSA, puis à PolytechNice-Sophia Dpt Electronique),
il a co-encadré un doctorant en thèse Cifre avec ST
Rousset, qui a travaillé sur la CEM des circuits
intégrés et a soutenu en 2012. Henri est maintenant
retraité, mais il continue à co-encadrer deux doctorants
en Cifre, l'un avec ST Rousset toujours sur les circuits
intégrés), mais surtout depuis Janvier 2014, une Cifre
avec Schneider Carros sur des cartes imprimées et des
systèmes complets; sa spécialité.
Henri Braquet graduated
from EREM (Ecole de Radio et d'Electronique de Marseille) in 1972. From
1973 to 1999 he worked with IBM at Centre d'Etudes et de Recherches in
La Gaude in France. He began his carreer in analog circuit design, then
from 1990 to 1999 he worked in the EMC laboratory of IBM. From june 83
to june 84 he had the opportunity to get a MS degree in EE from
University of Vermont. In mid 2000 he joined the Ecole Polytechnique of
Nice Sophia Antipolis as mid time professor. He is author or co-author
of more than 30 journal and conference papers and holds 2 patents.
Domaine d'activité :
EMC, EMI, CEM Composant
Publications :
Revues
internationales :
Y.
Bacher, H. Braquet, N. Froidevaux & G. Jacquemod, “Analysis
and Measurement of the Propagation of FTB
Stress in an Integrated Circuit”, IEEE
Trans. on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Vol.
9, n° 4,
pp. 754-762, 2019.
J.P.Leca,
N. Froideveaux,
P. Dupre, H. Braquet & G. Jacquemod, "EMI
Measurements, Modeling and Reduction of 32-bit High-Performances
Microcontroller", IEEE
Trans. on
Electromagnetic Compatibility, vol. 56, issue 5, pp. 1035-1044,
2014.
Conférences
internationales :
L.
Quazzo, Y. Bacher, N.
Froidevaux, H.
Braquet & G.
Jacquemod, “Analysis
of FTB stress propagation in an integrated circuit", PRIME, Lausanne,
Switzerland, pp. 185-188, 2019.
Y.
Bacher,
L. Quazzo, N. Froidevaux, H.
Braquet & G.
Jacquemod, “Near
field measurment bench and on-chip sensor for FTB stress propagation
analysis”, ICECS, Bordeaux, France, 2018.
L.
Quazzo, Y. Bacher, H. Braquet, N. Froidevaux & G.
Jacquemod, “Resonance
analysis methods for estimation of FTB propagation in integrated
circuits”, IEEE Radio, Flic-En-Flac, Mauritius
Island, 2018.
Y.
Bacher, L. Quazzo, H. Braquet, N. Froidevaux & G.
Jacquemod, “Novel
measurement set-ups of FTB stress propagation in an IC”, PIERS, Toyama, Japan, 2018.
M.
Zouaoui, E. Sicard, H. Braquet, G.
Rudelou, E. Marsy & G.
Jacquemod, “Impact
of NFSI on the clock of a Gigabit Ethernet Switch”, EMC Compo, Saint Petersburg,
Russia, pp. 131-135, 2017.
M.
Zouaoui, E. Sicard, G.
Jacquemod, G. Rudelou, E. Marsy & H. Braquet, “Radiated
immunity of a Gigabit Ethernet Switch embedded in an industrial
Programmable Logic Controller”, EMC, Ottawa, Canada, pp.
559-564, 2016.
Y.
Bacher, N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & G.
Jacquemod, “Resonance
Analysis for EMC improvement in integrated circuits”, EMC Compo, Edinburgh, UK, pp.
56-60, 2015.
Y.
Bacher, A. Gamet, N. Froideveaux, P. Le Fevre, H. Braquet, G.
Jacquemod, S. Meillere & M.
Bendahan, “A
New RLC structure measurement method using a Transverse ElectroMagnetic
cell”, ICSyS, Langkawi, Malaysia, pp.
7-10, 2015.
Y.
Bacher,
C.
Gori,
N. Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet &
G. Jacquemod, “Influence of supplies on fast transient burst test
in
microcontrollers”, LASCAS,
Montevideo, Uruguay, 2015.
Y.
Bacher, N. Froideveaux, C. Gori, H. Braquet &
G. Jacquemod, “Supply network setup impact on fast transient burst test
in
microcontrollers”, SAME,
University Booth, Sophia Antipolis, 2014.
J.P. Leca, N.
Froideveaux, H. Braquet & G. Jacquemod,
“EMI Modeling of a 32-bit Microcontroller”, IEEE EMC Compo, Dubrovnik,Croatia,
pp. 230-234, 2011.
J.P. Leca, N. Froideveaux, H. Braquet & G.
Jacquemod,
“Microcontroller EMI Modeling based on TEM cell Measurements”, SAME,
Sophia-Antipolis, France, October 2010.
J.P. Leca, N.
Froideveaux, H. Braquet & G. Jacquemod,
“EMI Modeling of a 32-bit Microcontroller in Wait Mode”, BMAS,
San Jose, USA, pp. 13-18, 2010.
Conférences
nationales :
L.
Quazzo, N.
Froidevaux, G.
Jacquemod & H.
Braquet, “Amélioration
de la robustesse des mircocontrôleurs STM32 soumis à
un stress FTB
en impulsion par contrôle de leur réponse”, JNRDM, Montpellier, 2019.
L.
Quazzo, Y. Bacher, N.
Froidevaux, H.
Braquet & G.
Jacquemod, “Nouvelles
méthodes d'analyse et de mesure de la propagation du stress FTB
dans un circuit intégré”, JNM, Caen, 2019.
H.
Braquet, “L'environnement
des cables”, RF & Microwave, Session "CEM
des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.
M. Moign,
J.P. Leca, N. Froidevaux, G.
Jacquemod, H.
Braquet & Y. Leduc,
“Microcontrollers
Electromagnetic Interferences (EMI) modeling and reduction”, RF & Microwave, Session "CEM
des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.
L.
Quazzo, Y. Bacher, H.
Braquet, N. Froidevaux & G.
Jacquemod, “STM32
microcontroller FTB susceptibility and modeling”, RF & Microwave, Session "CEM
des circuits intégrés et des cables", Paris, 2019.
M. Zouaoui, E. Sicard, H. Braquet, G. Rudelou, E. Marsy & G. Jacquemod, "Etude d'une injection NFSI sur le circuit d'horloge
d'un Switch Ethernet Gigabit", JNM,
Saint-Malo, France, 2017.
M. Zouaoui, G. Jacquemod,
E. Marsy, G. Rudelou, J. Adragna, H. Braquet & E. Sicard, "NFS en
immunité d'un Switch Ethernet Gigabit", JNRDM, Bordeaux, France, 2015.
Y. Bacher, N.
Froideveaux, P. Dupre, H. Braquet & C. Jacquemod, "Influence du
nombre d'alimentations sur la suceptibilité des
microncontrôleurs aux essais d'immunité aux trnsitoires
électriques rapides en salves", JNRDM, Lille, France, 2014.